{"id":1711,"date":"2019-05-22T02:47:44","date_gmt":"2019-05-22T02:47:44","guid":{"rendered":"http:\/\/www.meetyoucarbide.com\/single-post-raiders-about-interpret-high-resolution-electron-micrographs-come\/"},"modified":"2020-05-04T13:12:04","modified_gmt":"2020-05-04T13:12:04","slug":"raiders-about-interpret-high-resolution-electron-micrographs-come","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.meetyoucarbide.com\/fr\/raiders-about-interpret-high-resolution-electron-micrographs-come\/","title":{"rendered":"Les pillards sur l'interpr\u00e9tation de micrographies \u00e9lectroniques \u00e0 haute r\u00e9solution arrivent!"},"content":{"rendered":"
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La microscopie \u00e9lectronique \u00e0 transmission \u00e0 haute r\u00e9solution (HRTEM ou HREM) est le contraste de phase (le contraste des images de microscopie \u00e9lectronique \u00e0 haute r\u00e9solution est form\u00e9 par la diff\u00e9rence de phase entre l'onde projet\u00e9e synth\u00e9tis\u00e9e et l'onde diffract\u00e9e, elle est appel\u00e9e contraste de phase.) Microscopie, qui donne un arrangement atomique de la plupart des mat\u00e9riaux cristallins.<\/div>\n
La microscopie \u00e9lectronique \u00e0 transmission \u00e0 haute r\u00e9solution a commenc\u00e9 dans les ann\u00e9es 1950. En 1956, JWMenter a observ\u00e9 directement des bandes parall\u00e8les de phtalocyanine de cuivre de 12 \u00c5 avec une r\u00e9solution de microscope \u00e9lectronique \u00e0 transmission de 8 \u00c5 et a ouvert la microscopie \u00e9lectronique \u00e0 haute r\u00e9solution. La porte de la chirurgie. Au d\u00e9but des ann\u00e9es 1970, en 1971, Iijima Chengman a utilis\u00e9 un TEM avec une r\u00e9solution de 3,5 \u00c5 pour capturer l'image de contraste de phase de Ti2Nb10O29, et a observ\u00e9 directement la projection du groupe atomique le long du faisceau d'\u00e9lectrons incident. Dans le m\u00eame temps, les recherches sur la th\u00e9orie de l'imagerie d'image haute r\u00e9solution et la technologie d'analyse ont \u00e9galement fait des progr\u00e8s importants. Dans les ann\u00e9es 1970 et 1980, la technologie du microscope \u00e9lectronique a \u00e9t\u00e9 constamment am\u00e9lior\u00e9e et la r\u00e9solution a \u00e9t\u00e9 consid\u00e9rablement am\u00e9lior\u00e9e. G\u00e9n\u00e9ralement, la grande TEM a pu garantir une r\u00e9solution cristalline de 1,44 \u00c5 et une r\u00e9solution de points de 2 \u00e0 3 \u00c5. HRTEM peut non seulement observer l'image de la frange du r\u00e9seau refl\u00e9tant l'espacement interplanaire, mais \u00e9galement observer l'image structurelle de l'atome ou de l'arrangement de groupe dans la structure cristalline de r\u00e9action. R\u00e9cemment, l'\u00e9quipe du professeur David A. Muller de l'Universit\u00e9 Cornell aux \u00c9tats-Unis a utilis\u00e9 une technologie d'imagerie lamin\u00e9e et un d\u00e9tecteur de r\u00e9seau de pixels de microscope \u00e9lectronique d\u00e9velopp\u00e9 de mani\u00e8re ind\u00e9pendante pour atteindre une r\u00e9solution spatiale de 0,39 \u00c5 dans des conditions d'imagerie \u00e0 faible \u00e9nergie de faisceau d'\u00e9lectrons.<\/div>\n
Actuellement, les microscopes \u00e9lectroniques \u00e0 transmission sont g\u00e9n\u00e9ralement capables d'ex\u00e9cuter HRTEM. Ces microscopes \u00e9lectroniques \u00e0 transmission sont class\u00e9s en deux types: haute r\u00e9solution et analytique. Le TEM \u00e0 haute r\u00e9solution est \u00e9quip\u00e9 d'une pi\u00e8ce polaire d'objectif haute r\u00e9solution et d'une combinaison de diaphragme, ce qui rend l'angle d'inclinaison de la table d'\u00e9chantillonnage petit, r\u00e9sultant en un coefficient d'aberration sph\u00e9rique objectif plus petit; tandis que le TEM analytique n\u00e9cessite une plus grande quantit\u00e9 pour diverses analyses. L'angle d'inclinaison de la platine d'\u00e9chantillonnage, de sorte que le sabot de la lentille d'objectif est utilis\u00e9 diff\u00e9remment du type haute r\u00e9solution, affectant ainsi la r\u00e9solution. En g\u00e9n\u00e9ral, un TEM \u00e0 haute r\u00e9solution de 200 kev a une r\u00e9solution de 1,9 \u00c5, tandis qu'un TEM analytique \u00e0 200 kev a un 2,3 \u00c5. Mais cela n'affecte pas l'image haute r\u00e9solution de prise de vue TEM analytique.<\/div>\n

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Comme le montre la figure 1, le diagramme du chemin optique du processus d'imagerie par microscopie \u00e9lectronique \u00e0 haute r\u00e9solution, lorsqu'un faisceau d'\u00e9lectrons avec une certaine longueur d'onde (\u03bb) est incident sur un cristal avec un espacement du plan cristallin d, la condition de Bragg (2dsin \u03b8 = \u03bb) est satisfaite, une onde diffract\u00e9e est g\u00e9n\u00e9r\u00e9e selon un angle (2\u03b8). Cette onde diffract\u00e9e converge sur le plan focal arri\u00e8re de la lentille d'objectif pour former un point de diffraction (dans un microscope \u00e9lectronique, un point de diffraction r\u00e9gulier form\u00e9 sur le plan focal arri\u00e8re est projet\u00e9 sur l'\u00e9cran au phosphore, qui est ce qu'on appelle un motif de diffraction \u00e9lectronique ). Lorsque l'onde diffract\u00e9e sur le plan focal arri\u00e8re continue d'avancer, l'onde diffract\u00e9e est synth\u00e9tis\u00e9e, une image agrandie (image microscopique \u00e9lectronique) est form\u00e9e sur le plan image et deux ou plusieurs grandes pupilles d'objectif peuvent \u00eatre ins\u00e9r\u00e9es sur la focale arri\u00e8re avion. L'imagerie par interf\u00e9rence d'onde, appel\u00e9e microscopie \u00e9lectronique \u00e0 haute r\u00e9solution, est appel\u00e9e image microscopique \u00e9lectronique \u00e0 haute r\u00e9solution (image microscopique \u00e0 haute r\u00e9solution).<\/div>\n
Comme mentionn\u00e9 ci-dessus, l'image microscopique \u00e9lectronique \u00e0 haute r\u00e9solution est une image microscopique \u00e0 contraste de phase form\u00e9e en faisant passer le faisceau transmis du plan focal de la lentille de l'objectif et les plusieurs faisceaux diffract\u00e9s \u00e0 travers la pupille de l'objectif, en raison de leur coh\u00e9rence de phase. En raison de la diff\u00e9rence dans le nombre de faisceaux diffract\u00e9s participant \u00e0 l'imagerie, des images haute r\u00e9solution de noms diff\u00e9rents sont obtenues. En raison des diff\u00e9rentes conditions de diffraction et de l'\u00e9paisseur de l'\u00e9chantillon, les micrographies \u00e9lectroniques \u00e0 haute r\u00e9solution avec diff\u00e9rentes informations structurelles peuvent \u00eatre divis\u00e9es en cinq cat\u00e9gories: franges de r\u00e9seau, images structurelles unidimensionnelles, images de r\u00e9seau bidimensionnel (images monocellulaires), bidimensionnelles image de structure (image \u00e0 l'\u00e9chelle atomique: image de structure cristalline), image sp\u00e9ciale.<\/div>\n
Franges de r\u00e9seau: si un faisceau de transmission sur le plan focal arri\u00e8re est s\u00e9lectionn\u00e9 par la lentille d'objectif et qu'un faisceau de diffraction interf\u00e8re les uns avec les autres, un motif de frange unidimensionnel avec un changement p\u00e9riodique d'intensit\u00e9 est obtenu (comme le montre le triangle noir dans Fig. 2 (f)) Il s'agit de la diff\u00e9rence entre une frange de r\u00e9seau et une image de r\u00e9seau et une image structurelle, qui ne n\u00e9cessite pas que le faisceau d'\u00e9lectrons soit exactement parall\u00e8le au plan de r\u00e9seau. En fait, dans l'observation de cristallites, de pr\u00e9cipit\u00e9s et similaires, les franges de r\u00e9seau sont souvent obtenues par interf\u00e9rence entre une onde de projection et une onde de diffraction. Si un diagramme de diffraction d'\u00e9lectrons d'une substance telle que des cristallites est photographi\u00e9, un anneau de culte appara\u00eetra comme indiqu\u00e9 dans (a) de la Fig.2.<\/div>\n

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Image de structure unidimensionnelle: si l'\u00e9chantillon a une certaine inclinaison, de sorte que le faisceau d'\u00e9lectrons est incident parall\u00e8lement \u00e0 un certain plan cristallin du cristal, il peut satisfaire le motif de diffraction de diffraction unidimensionnelle montr\u00e9 sur la figure 2 (b) ( distribution sym\u00e9trique par rapport au spot de transmission) Diagramme de diffraction). Dans ce mod\u00e8le de diffraction, l'image haute r\u00e9solution prise dans la condition de mise au point optimale est diff\u00e9rente de la frange du r\u00e9seau, et l'image de structure unidimensionnelle contient les informations de la structure cristalline, c'est-\u00e0-dire l'image de structure unidimensionnelle obtenue, comme indiqu\u00e9 sur la figure 3 (une image structurelle unidimensionnelle \u00e0 haute r\u00e9solution de l'oxyde supraconducteur \u00e0 base de Bi montr\u00e9.<\/div>\n
Image en r\u00e9seau bidimensionnel: si le faisceau d'\u00e9lectrons est incident parall\u00e8lement \u00e0 un certain axe du ruban de cristal, un diagramme de diffraction bidimensionnel peut \u00eatre obtenu (distribution sym\u00e9trique bidimensionnelle par rapport au point de transmission central, repr\u00e9sent\u00e9e sur la figure 2 (c )). Pour un tel diagramme de diffraction d'\u00e9lectrons. Au voisinage du spot de transmission, une onde de diffraction refl\u00e9tant la cellule cristalline appara\u00eet. Dans l'image bidimensionnelle g\u00e9n\u00e9r\u00e9e par l'interf\u00e9rence entre l'onde diffract\u00e9e et l'onde transmise, une image en r\u00e9seau bidimensionnelle montrant la cellule unitaire peut \u00eatre observ\u00e9e, et cette image contient des informations sur l'\u00e9chelle de la cellule unitaire. Cependant, les informations qui ne contiennent pas d'\u00e9chelle atomique (dans un agencement atomique), c'est-\u00e0-dire une image de r\u00e9seau bidimensionnelle est une image de r\u00e9seau bidimensionnelle de silicium monocristallin, comme le montre la figure 3 (d).<\/div>\n
Image de structure bidimensionnelle: Un diagramme de diffraction tel que montr\u00e9 sur la figure 2 (d) est obtenu. Lorsqu'une image au microscope \u00e9lectronique \u00e0 haute r\u00e9solution est observ\u00e9e avec un tel motif de diffraction, plus il y a d'ondes de diffraction impliqu\u00e9es dans l'imagerie, plus les informations contenues dans l'image \u00e0 haute r\u00e9solution sont importantes. Une image de structure bidimensionnelle \u00e0 haute r\u00e9solution de l'oxyde supraconducteur Tl2Ba2CuO6 est repr\u00e9sent\u00e9e sur la figure 3 (e). Cependant, il est peu probable que la diffraction du c\u00f4t\u00e9 \u00e0 haute longueur d'onde avec une limite de r\u00e9solution plus \u00e9lev\u00e9e du microscope \u00e9lectronique participe \u00e0 l'imagerie des informations de structure correctes et devienne l'arri\u00e8re-plan. Par cons\u00e9quent, dans la plage autoris\u00e9e par la r\u00e9solution. En imaginant avec autant d'ondes diffract\u00e9es que possible, il est possible d'obtenir une image contenant les informations correctes de la disposition des atomes dans la maille \u00e9l\u00e9mentaire. L'image de la structure ne peut \u00eatre observ\u00e9e que dans une r\u00e9gion mince excit\u00e9e par la relation proportionnelle entre l'onde participant \u00e0 l'imagerie et l'\u00e9paisseur de l'\u00e9chantillon.<\/div>\n

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Image sp\u00e9ciale: Sur le diagramme de diffraction du plan focal arri\u00e8re, l'insertion de l'ouverture ne s\u00e9lectionne que l'imagerie d'onde sp\u00e9cifique pour pouvoir observer l'image du contraste des informations structurelles sp\u00e9cifiques. Un exemple typique est une structure ordonn\u00e9e comme. Le diagramme de diffraction d'\u00e9lectrons correspondant est montr\u00e9 sur la figure 2 (e) comme le diagramme de diffraction d'\u00e9lectrons de l'alliage ordonn\u00e9 Au, Cd. La structure ordonn\u00e9e est bas\u00e9e sur une structure cubique \u00e0 faces centr\u00e9es dans laquelle les atomes de Cd sont dispos\u00e9s dans l'ordre. Les diagrammes de diffraction d'\u00e9lectrons de la figure 2 (e) sont faibles, \u00e0 l'exception des r\u00e9flexions de r\u00e9seau de base des indices (020) et (008). R\u00e9flexion de r\u00e9seau ordonn\u00e9e, en utilisant la lentille d'objectif pour extraire la r\u00e9flexion de r\u00e9seau de base, en utilisant des ondes de transmission et une imagerie de r\u00e9flexion de r\u00e9seau ordonn\u00e9e, uniquement des atomes Cd avec des points clairs ou des points sombres tels que la haute r\u00e9solution comme le montre la figure 4.<\/div>\n

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Comme le montre la figure 4, l'image haute r\u00e9solution repr\u00e9sent\u00e9e varie avec l'\u00e9paisseur de l'\u00e9chantillon pr\u00e8s du sous-focus optimal haute r\u00e9solution. Par cons\u00e9quent, lorsque nous obtenons une image haute r\u00e9solution, nous ne pouvons pas simplement dire ce qu'est l'image haute r\u00e9solution. Il faut d'abord faire une simulation informatique pour calculer la structure du mat\u00e9riau sous diff\u00e9rentes \u00e9paisseurs. Une image haute r\u00e9solution de la substance. Une s\u00e9rie d'images haute r\u00e9solution calcul\u00e9es par l'ordinateur est compar\u00e9e aux images haute r\u00e9solution obtenues par l'exp\u00e9rience pour d\u00e9terminer les images haute r\u00e9solution obtenues par l'exp\u00e9rience. L'image de simulation informatique repr\u00e9sent\u00e9e sur la figure 5 est compar\u00e9e \u00e0 l'image haute r\u00e9solution obtenue par l'exp\u00e9rience.<\/div>\n
Cet article est organis\u00e9 par le consultant en technologie de la colonne personne physique.<\/div>\n

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High resolution transmission electron microscopy (HRTEM or HREM) is the phase contrast (the contrast of high-resolution electron microscopy images is formed by the phase difference between the synthesized projected wave and the diffracted wave, It is called phase contrast.) Microscopy, which gives an atomic arrangement of most crystalline materials. High-resolution transmission electron microscopy began in…<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_jetpack_memberships_contains_paid_content":false,"footnotes":""},"categories":[79],"tags":[],"jetpack_featured_media_url":"","jetpack_sharing_enabled":true,"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.meetyoucarbide.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1711"}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.meetyoucarbide.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.meetyoucarbide.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.meetyoucarbide.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.meetyoucarbide.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1711"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/www.meetyoucarbide.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1711\/revisions"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.meetyoucarbide.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1711"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.meetyoucarbide.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1711"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.meetyoucarbide.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1711"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}